Application of boundary scanning to digital devices testable design

Authors

  • А.Б. Биньковская
  • В.Г. Котух
  • М.А. Мирошник
  • С.Н. Селевко

Abstract

Application of boundary scanning methods to digital devices testable design is carried out. It is offered to use the JTAG test tools to develop custom functional test stands. It is shown that the use of JTAG-test reduces the cost and time of testing.

References

Городецкий, А., Курилан, Л. Введение в технологию граничного сканирования // Производство электроники: технологии, оборудование, материалы. – 2007. – №2. – С.1-5.

IEEE Std. 1149.1 – Standard Test Access Port and Boundary-Scan Architecture.

Методы логического проектирования дискретных устройств со встроенными средствами диагностирования / М.А. Бережная : дис. … канд. техн. наук. – Харьков, 2003. – 170с.

Городецкий, А. Тестирование и тестопригодное проектирование // Компоненты и технологии. – 2009. – № 2. – С.6-7.

Городецкий,А. Встроенные инструменты тестирования // Компоненты и технологии. – 2009. – № 3. – С.10-11.

Городецкий, А. Стратегия тестирования: необходимость применения JTAG // Компоненты и технологии. – 2009. – № 5. – С.10-11.

Городецкий, А. Покрытие неисправностей и полнота JTAG-тестирования // Компоненты и технологии. – 2009. – № 11. – С.12-13.

Городецкий, А. Техническая диагностика проектирование цифровых устройств // Компоненты и технологии. – 2011. – № 3. – С.8-9.

Городецкий, А. FPGA и ПЛИС в JTAG-тестировании // Компоненты и технологии. – 2011. – № 4. – С.20-21.

Мирошник, М.А. Методы повышения отказоустойчивости программируемых логических интегральных схем / М.А. Мирошник, Я.Ю. Королева, В.А.Лебедь // Технология приборостроения. – 2011. – №2. – С. 16–21.

How to Cite

Биньковская, А., Котух, В., Мирошник, М., & Селевко, С. (2012). Application of boundary scanning to digital devices testable design. Radiotekhnika, 3(170), 192–201. Retrieved from http://rt.nure.ua/article/view/174984

Issue

Section

Articles