Contact-free operating mode in scanning microwave microscopy

Authors

  • Ю.Е. Гордиенко
  • С.Ю. Ларкин
  • М.С.Е. Чхотуа

Abstract

The results of straight numerical calculations that were received by using the finite element method and SHF field dependencies of spacing value along probe-object system axis for conical coaxial resonator probe were considered. The fundamental signals dependencies of spacing were also given. Small perturbation theory application area for determination of contact-free fundamental signals correlations was shown.

References

S. Anlage, V. Talanov, A. Schwartz: Principles of Near-Field Microwave Microscopy. Electrical and Electromechanical Phenomena at the Nanoscale, Volume 1, edited by S. V. Kalinin and A. Gruverman (Springer-Verlag, New York, 2007, ISBN: 978-0-387-28667-9), p. 215-253.

Fred Duewer, et al.: Tip–sample distance feedback control in a scanning evanescent microwave microscope. Applied physics letters Vol. 74, No. 18, 1999.

Гордиенко, Ю. Е., Мельник, С. И. Методика микроволновой сканирующей томографии электрофизических свойств полупроводников // Сб. материалов 20-й Крымской МНТК «СВЧ техника и телекоммуникационные технологии». – Севастополь, 2010. – С.721-722.

D. Xiang, C. Gao. Quantitative complex electrical impedance microscopy by scanning evanescent microwave microscope // Materials Characterization №48, 2002, p. 117–125.

Гордиенко, Ю.Е., Петров, В.В. Полетаев, Д.А. Свойства четвертьволнового коаксиального СВЧ измерительного преобразователя для диагностики материалов // Радиотехника. – 2008. – №154. – С. 61-68.

Гордиенко, Ю.Е., Камышан А.А., Ларкин С.Ю. Сравнительный анализ характеристики резонаторных зондов для СММ // Радиоэлектроника и информатика. – 2011. – № 1. – С. 24-29.

S. V. Anlage, D.E. Steinhauer, B.J. Feenstra, et al. Near-field microwave microscopy of material properties // Department of Physics, University of Maryland, College Park, Maryland, 2000 – p. 9.

Гордиенко, Ю.Е., Ларкин, С.Ю., Яцкив, А.М. Ближнеполевой СВЧ датчик на основе конусного коаксиального резонатора // Радиотехника. – 2009. – Вып.159.

Інтелектуальні вимірювальні системи на основі мікроелектронних датчиків нового покоління / Я.І. Лепіх та ін. – Одеса : Астропринт, 2011. – Гл.4. Скануюча мікрохвильова мікроскопія як інтелектуальна вимірювальна система. – С. 176 – 246.

Сегерлинд, Л. Применение метода конечных элементов. – М. : Мир, 1979. – 392 С.

Gordienko, Y.E., Larkin, S.U., Prokaza, A.M. Electromagnetic properties of resonator microprobe for the scanning microwave microscopy // Telecommunication and Radio Engineering. – 2011. – Vol. 70, № 15. – Р. 1333–1342.

Imtiaz, A., Anlage, S.M. Effect of tip-geometry on contrast and spatial-resolution on the near-field microwave microscopy // Journal of Applied Physics. – 2006. – 100 p. 0043041-0043048.

How to Cite

Гордиенко, Ю., Ларкин, С., & Чхотуа, М. (2012). Contact-free operating mode in scanning microwave microscopy. Radiotekhnika, 3(170), 73–78. Retrieved from http://rt.nure.ua/article/view/174953

Issue

Section

Articles