К вопросу о применении метода направленных графов для анализа погрешностей сложных микроволновых измерителей
Abstract
Описывается способ нахождения частных погрешностей сложных микроволновых измерителей с помощью направленных графов. Для иллюстрации способа выбран известный измеритель модуля коэффициента отражения, частные погрешности которого ранее были определены методом матрицы рассеяния. Произведено сравнение конечных результатов, полученных обоими методами.Downloads
How to Cite
Литвинов, Д., & Киселев, В. К вопросу о применении метода направленных графов для анализа погрешностей сложных микроволновых измерителей. Radiotekhnika, 2(21), 219–227. Retrieved from http://rt.nure.ua/article/view/210519
Issue
Section
Articles
License
Authors who publish with this journal agree to the following terms:
1. Authors retain copyright and grant the journal right of first publication with the work simultaneously licensed under a Creative Commons Attribution License that allows others to share the work with an acknowledgement of the work's authorship and initial publication in this journal.
2. Authors are able to enter into separate, additional contractual arrangements for the non-exclusive distribution of the journal's published version of the work (e.g., post it to an institutional repository or publish it in a book), with an acknowledgement of its initial publication in this journal.
3. Authors are permitted and encouraged to post their work online (e.g., in institutional repositories or on their website) prior to and during the submission process, as it can lead to productive exchanges, as well as earlier and greater citation of published work (See The Effect of Open Access).
