К вопросу о применении метода направленных графов для анализа погрешностей сложных микроволновых измерителей - Литвинов, Д.Д.; Киселев, В.К. (Radiotekhnika)
Описывается способ нахождения частных погрешностей сложных микроволновых измерителей с помощью направленных графов. Для иллюстрации способа выбран известный измеритель модуля коэффициента отражения, частные погрешности которого ранее были определены методом матрицы рассеяния. Произведено сравнение конечных результатов, полученных обоими методами.