Скрещенные решетки на диэлектрических подложках - Адонина, А.И.; Андрусенко, А.М.; Сидоренко, Б.Г. (Radiotekhnika)
Методом непосредственного суммирования многократных отражений получены значения коэффициентов отражения и прохождения в виде бесконечных последовательностей для структуры, состоящей из двух скрещенных решеток, каждая из которых расположена на слое диэлектрика. Решение справедливо для случая длинноволнового приближения (период каждой решетки меньше длины волны), а расстояние между диэлектриками превышает расстояние, на котором гармоники затухают в е раз. С помощью ранее разработанной методики бесконечные последовательности свернуты. На ЭВМ рассчитаны амплитудные и поляризационные характеристики исследуемой структуры в зависимости от ее параметров и представлены в виде графиков.